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SIGMAKOKI/西格瑪光機(jī)光束平行度檢驗(yàn)儀

SIGMAKOKI/西格瑪光機(jī)光束平行度檢驗(yàn)儀
小徑寬帶無(wú)光程差光束平行度檢驗(yàn)儀 SPUVNIR-1.5-CS
可觀測(cè)檢驗(yàn)干涉長(zhǎng)度很小的,寬帶(355-1100nm)小直徑光束的光束的平行度。

  • 產(chǎn)品型號(hào):SPUVNIR-1.5-CS
  • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
  • 更新時(shí)間:2024-11-29
  • 訪  問  量:360
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產(chǎn)品詳情

SIGMAKOKI/西格瑪光機(jī)光束平行度檢驗(yàn)儀

小徑寬帶無(wú)光程差光束平行度檢驗(yàn)儀 SPUVNIR-1.5-CS

可觀測(cè)檢驗(yàn)干涉長(zhǎng)度很小的,寬帶(355-1100nm)小直徑光束的光束的平行度。

可觀測(cè)檢驗(yàn)干涉長(zhǎng)度很小的,寬帶(355-1100nm)小直徑光束的光束的平行度。


測(cè)定原理

檢測(cè)畫面
將其直接插入需評(píng)估的光束中,便可觀測(cè)光束的平行程度。它能大幅減輕光軸調(diào)整的負(fù)擔(dān),節(jié)約調(diào)整時(shí)間,更容易得到更高質(zhì)量的光束。
可用于舊型同類產(chǎn)品無(wú)法觀測(cè)的可干涉性很差的(干涉長(zhǎng)度:幾十μm)。
適用的光束直徑范圍寬,光束直徑可小至Φ1.5mm。
對(duì)應(yīng)波長(zhǎng)范圍寬(355nm~1100nm),從紫外到近紅外都可用。
產(chǎn)品配套齊全(含攝像頭,USB電纜,顯示軟件),到貨后可直接使用。 ※計(jì)算機(jī)需要用戶自己準(zhǔn)備
技術(shù)指標(biāo)
型號(hào)SPUVNIR-1.5-CS
對(duì)應(yīng)波長(zhǎng)〔nm〕355~1100
入射光束直徑〔mm〕Φ1.5~ ※孔徑Φ10
攝像頭接口USB3.0
內(nèi)部光學(xué)件材料BK7
玻璃板厚〔mm〕0.5
框體材料鋁合金(黑色氧化)
庫(kù)存需要確認(rèn)
CADDXF STP IGS SAT
報(bào)價(jià)訂貨表
CART カート
軟件技術(shù)指標(biāo)
型號(hào)OSCAMS
測(cè)量以及顯示項(xiàng)目?傾斜角(deg) 〔顯示分辨率0.1deg〕
?光束曲率半徑(m) 〔顯示分辨率0.1m〕
?光束發(fā)散角(半角)(mrad)〔顯示分辨率0.01mrad〕
? 屈光度(λ)〔表示分解能0.1〕
功能?合格/不合格判斷
  (判斷指標(biāo)可選,上限/下限可自由設(shè)定)
? 自動(dòng)選取數(shù)據(jù)處理圓形區(qū)域(也可手動(dòng))
? 記錄數(shù)據(jù)(可加注)
? 保存圖像
? 編輯參數(shù)文件
? 更改攝像頭參數(shù)
? 顯示統(tǒng)計(jì)數(shù)字列表
? 顯示統(tǒng)計(jì)數(shù)字圖標(biāo)
? 統(tǒng)計(jì)平均值,標(biāo)準(zhǔn)偏差,合格率等

對(duì)應(yīng)OS:Windows®7(32/64bit) / 8.1(64bit) / 10(64bit)

信息
自動(dòng)計(jì)測(cè)軟件(OSCAMS)可在公司免費(fèi)下載使用。
沒附帶立柱。歡迎選購(gòu)本公司標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品的M6螺紋的立柱。
螺紋孔規(guī)格:M6P1深5mm。
備有濾光片插槽,用戶可根據(jù)使用需要插入中性濾光片等,衰減光強(qiáng)。但,濾光片不是附屬品。

※1 立柱不是附屬品。歡迎選購(gòu)RO系列M6P1螺紋規(guī)格的標(biāo)準(zhǔn)立柱。
※2 用于確認(rèn)測(cè)量頭和光束的相對(duì)位置。建議將通光孔 (Φ 1 mm) 的透過光斑,調(diào)整到圖像的中心位置附近。

外形圖

注意事項(xiàng)
將測(cè)量頭插入光路的過程中,會(huì)發(fā)生激光束的散射或反射。在使用時(shí),強(qiáng)烈建議做好激光防護(hù)措施,比如,佩戴好合適的眼鏡等。歡迎選用西格瑪光機(jī)的標(biāo)準(zhǔn)激光防護(hù)產(chǎn)品。
測(cè)量頭插入光路后,并沒有*全遮擋原光束。所以,千萬(wàn)不要在光軸附近直接目視光源。
激光損傷閾值:10 W/cm2 (1064nm)。 假如光束能量密度過高時(shí),建議使用光束取樣板(BS4等),分束或衰減后使用。
測(cè)量頭的光軸和光束的光軸不一致時(shí),干涉條紋可能會(huì)不十分清晰。但是,只要調(diào)整一下測(cè)量頭的角度(光束入射角度),就能得到清晰的干涉條紋的。

SIGMAKOKI/西格瑪光機(jī)光束平行度檢驗(yàn)儀

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